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ADXRS453BEYZ データシート(PDF) 8 Page - Analog Devices |
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ADXRS453BEYZ データシート(HTML) 8 Page - Analog Devices |
8 / 32 page ADXRS453 Rev. 0 | Page 8 of 32 30 25 20 15 10 5 0 –3 –2 –1 0 3 2 1 ERROR (%) Figure 12. SOIC_CAV Sensitivity Drift over Temperature 1 0.1 0.01 0.001 AVERAGING TIME (Hours) Figure 13. Typical Root Allan Variance at 40°C 3 2 1 0 –1 –2 –3 –50 –30 –10 10 30 50 70 90 110 130 TEMPERATURE (°C) Figure 14. Null Output over Temperature, 16 Devices Soldered on PCB 45 40 35 30 25 20 15 10 5 0 –3 –2 –1 0 3 2 1 ERROR (%) Figure 15. LCC_V Sensitivity Drift over Temperature 1 0.1 0.01 0.001 AVERAGING TIME (Hours) Figure 16. Typical Root Allan Variance at 105°C 3 2 1 0 –1 –2 –3 –50 –30 –10 10 30 50 70 90 110 130 TEMPERATURE (°C) Figure 17. Sensitivity over Temperature, 16 Devices Soldered on PCB |
同様の部品番号 - ADXRS453BEYZ |
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同様の説明 - ADXRS453BEYZ |
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