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ML12513 データシート(PDF) 8 Page - LANSDALE Semiconductor Inc. |
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8 / 12 page www.lansdale.com Page 8 of 12 Issue 0 LANSDALE Semiconductor, Inc. ML12509, ML12511, ML12513 Figure 6. Maximum Frequency Test Circuit DIVIDE BY 6 800 mV Clock Input Q (Pin 2) 3 Cycles 3 Cycles 850 mV typ DIVIDE BY 9 800 mV 850 mV typ 5 Cycles 4 Cycles Clock Input Q (Pin 2) 1.0 k (To Scope) Vin VEE 0.1 µF 0.1 µF 0.1 µF 0.1 µF 5.0 µF 13 12 11 10 9 15 14 VEE = –3.0 V 8 VBB C E5 E4 E3 E2 E1 1 16 VCC = 2.0 V Vout to Scope 2 3 Q Q Unused output connected to a 50 Ω resistor to ground |
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同様の説明 - ML12513 |
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