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CY7C1563XV18 データシート(PDF) 16 Page - Cypress Semiconductor |
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CY7C1563XV18 データシート(HTML) 16 Page - Cypress Semiconductor |
16 / 29 page Document Number: 001-70205 Rev. *G Page 16 of 29 CY7C1563XV18/CY7C1565XV18 TAP Timing and Test Conditions Figure 3 shows the TAP timing and test conditions. [19] Figure 3. TAP Timing and Test Conditions tTL tTH (a) TDO CL = 20 pF Z0 = 50 GND 0.9V 50 1.8V 0V ALL INPUT PULSES 0.9V Test Clock Test Mode Select TCK TMS Test Data In TDI Test Data Out tTCYC tTMSH tTMSS tTDIS tTDIH tTDOV tTDOX TDO Slew Rate = 1 V/ns Note 19. Test conditions are specified using the load in TAP AC Test Conditions. tR/tF = 1 V/ns. |
同様の部品番号 - CY7C1563XV18 |
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同様の説明 - CY7C1563XV18 |
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