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FM16W08-SG データシート(PDF) 8 Page - Cypress Semiconductor |
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FM16W08-SG データシート(HTML) 8 Page - Cypress Semiconductor |
8 / 18 page FM16W08 Document Number: 001-86210 Rev. *F Page 8 of 18 AC Test Conditions Input pulse levels .................................10% and 90% of VDD Input rise and fall times (10%–90%) ........................... < 5 ns Input and output timing reference levels ................... 0.5 VDD Output load capacitance............................................. 100 pF Capacitance Parameter Description Test Conditions Max Unit CI/O Input/Output capacitance (DQ) TA = 25 C, f = 1 MHz, VDD = VDD(Typ) 8 pF CIN Input capacitance 6pF Thermal Resistance Parameter Description Test Conditions 28-pin SOIC Unit JA Thermal resistance (junction to ambient) Test conditions follow standard test methods and procedures for measuring thermal impedance, in accordance with EIA/JESD51. 58 C/W JC Thermal resistance (junction to case) 26 C/W Figure 5. AC Test Loads 5.5 V OUTPUT CL R1 R2 497 919 100 pF |
同様の部品番号 - FM16W08-SG |
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同様の説明 - FM16W08-SG |
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