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74F541 データシート(PDF) 7 Page - NXP Semiconductors |
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74F541 データシート(HTML) 7 Page - NXP Semiconductors |
7 / 10 page Philips Semiconductors Product specification 74F540, 74F541 Buffers 1990 Jan 08 7 TEST CIRCUIT AND WAVEFORM tw 90% VM 10% 90% VM 10% 90% VM 10% 90% VM 10% NEGATIVE PULSE POSITIVE PULSE tw AMP (V) 0V 0V tTHL (tf ) INPUT PULSE REQUIREMENTS rep. rate tw tTLH tTHL 1MHz 500ns 2.5ns 2.5ns Input Pulse Definition VCC family 74F D.U.T. PULSE GENERATOR RL CL RT VIN VOUT Test Circuit for 3-State Outputs DEFINITIONS: RL = Load resistor; see AC electrical characteristics for value. CL = Load capacitance includes jig and probe capacitance; see AC electrical characteristics for value. RT = Termination resistance should be equal to ZOUT of pulse generators. tTHL (tf ) tTLH (tr ) tTLH (tr ) AMP (V) amplitude 3.0V 1.5V VM RL 7.0V SF00777 TEST SWITCH tPLZ closed tPZL closed All other open SWITCH POSITION |
同様の部品番号 - 74F541 |
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同様の説明 - 74F541 |
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