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TDA1310 データシート(PDF) 6 Page - NXP Semiconductors |
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TDA1310 データシート(HTML) 6 Page - NXP Semiconductors |
6 / 16 page May 1994 6 Philips Semiconductors Preliminary specification Stereo Continuous Calibration DAC (CC-DAC) TDA1310A Calibration principle LIMITING VALUES In accordance with the Absolute Maximum Rating System (IEC 134). Notes 1. Human body model; C = 100 pF; R = 1500 Ω; 3 zaps positive and negative. 2. Machine model; C = 200 pF; L = 0.5 µH; R = 10 Ω; 3 zaps positive and negative. THERMAL CHARACTERISTICS SYMBOL PARAMETER CONDITIONS MIN. MAX. UNIT VDD supply voltage − 6V Tstg storage temperature −55 +150 °C Txtal maximum crystal temperature − +150 °C Tamb operating ambient temperature −40 +85 °C Ves electrostatic handling note 1 −2000 +2000 V note 2 −200 +200 V SYMBOL PARAMETER VALUE UNIT Rth j-a thermal resistance from junction to ambient in free air DIL8 100 K/W SO8 210 K/W Fig.3 Calibration principle. a. Calibration. b. Operation. a. b. |
同様の部品番号 - TDA1310 |
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同様の説明 - TDA1310 |
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