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2SK881 データシート(PDF) 2 Page - Toshiba Semiconductor |
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2SK881 データシート(HTML) 2 Page - Toshiba Semiconductor |
2 / 6 page 2SK881 2007-11-01 2 L1: 0.8 mmφ Ag plated Cu wire, 3 turns, 10 mm ID, 10 mm length. L2: 0.8 mmφ Ag plated Cu wire, 3.5 turns, 10 mm ID, 10 mm length. 2SK881 is measured at each group by changing Rs. Group RS (Ω) 2SK881-O 0 2SK881-Y 18 Ω ± 5% 2SK881-GR 100 Ω ± 5% Marking Figure 1 100 MHz GPS, NF Test Circuit |
同様の部品番号 - 2SK881_07 |
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同様の説明 - 2SK881_07 |
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