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TLP116 データシート(PDF) 5 Page - Toshiba Semiconductor |
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5 / 8 page TLP116 2007-10-01 5 TEST CIRCUIT 5 : tpHL , tpLH TEST CIRCUIT 6 : tpHL , tpLH TEST CIRCUIT 7 : Common-Mode Transient Immunity Test Circuit CM L CM H 10% 90% 1000V ・SW B : IF=0mA 0.4V 4V tr tf ・SW A : IF=5mA ) ( ) ( 800 s t r V H CM μ = ) ( ) ( 800 s t f V L CM μ = 0.1uF VO V CC SW IF 1 3 6 5 4 VCM B → VCC GND SHIELD A CL is capacitance of the probe and JIG. (P.G) : Pulse Generator IF=12mA(P.G) (f=5MHz , duty=50%) 0.1uF VCC RIN=100Ω INPUT MONITORING NODE CL=15pF CL=15pF Vo MONITORING NODE VCC GND SHIELD VIN=5V(P.G) (f=5MHz , duty=50%) 0.1uF VCC RIN=470Ω CIN=27pF CL=15pF CL is capacitance of the probe and JIG. Vo MONITORING NODE CL=15pF INPUT MONITORING NODE (P.G) : Pulse Generator VCC GND SHIELD tpHL tpLH IF 1.5V V O 50% VOL VOH tf tr 10% 90% tpHL tpLH IF 1.5V V O 50% VOL VOH tf tr 10% 90% |
同様の部品番号 - TLP116_07 |
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同様の説明 - TLP116_07 |
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