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2SK3444 データシート(PDF) 4 Page - Toshiba Semiconductor |
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4 / 6 page 2SK3444 2009-09-29 4 Case temperature Tc (°C) RDS (ON) – Tc Drain-source voltage VDS (V) IDR – VDS Drain-source voltage VDS (V) Capacitance – VDS Case temperature Tc (°C) Vth – Tc Case temperature Tc (°C) PD – Tc Total gate charge Qg (nC) Dynamic input/output characteristics 0 40 80 120 160 −80 −40 0 40 80 120 160 Common source VGS = 10 V Pulse test ID = 25 A 12 6 0.1 0 −0.2 −0.4 −0.6 −0.8 −1.0 −1.2 −1.4 −1.6 1 10 100 Common source Tc = 25°C Pulse test VGS = 0 V 1 3 5 10 10 0.1 1 10 100 100 1000 10000 Common source VGS = 0 V f = 1 MHz Tc = 25°C Ciss Coss Crss 3 0 −80 −40 0 40 120 160 80 1 2 5 6 4 Common source VDS = 10 V ID = 1 mA Pulse test 200 0 160 120 80 40 0 0 20 40 60 80 100 4 8 12 16 20 Common source ID = 25 A Tc = 25°C Pulse test VDS = 40 V 80 160 VDS VGS 40 80 10 0 40 80 120 200 120 160 160 200 |
同様の部品番号 - 2SK3444_09 |
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同様の説明 - 2SK3444_09 |
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