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STU80N4F6 データシート(PDF) 8 Page - STMicroelectronics |
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STU80N4F6 データシート(HTML) 8 Page - STMicroelectronics |
8 / 18 page Test circuits STD80N4F6, STU80N4F6 8/18 DocID023839 Rev 3 3 Test circuits Figure 13. Switching times test circuit for resistive load Figure 14. Gate charge test circuit Figure 15. Test circuit for inductive load switching and diode recovery times Figure 16. Unclamped inductive load test circuit Figure 17. Unclamped inductive waveform Figure 18. Switching time waveform AM01468v1 VGS PW VD RG RL D.U.T. 2200 μF 3.3 μF VDD AM01469v1 VDD 47k Ω 1k Ω 47k Ω 2.7k Ω 1k Ω 12V Vi=20V=VGMAX 2200 μF PW IG=CONST 100 Ω 100nF D.U.T. VG AM01470v1 A D D.U.T. S B G 25 Ω A A B B RG G FAST DIODE D S L=100 μH μF 3.3 1000 μF VDD AM01471v1 Vi Pw VD ID D.U.T. L 2200 μF 3.3 μF VDD AM01472v1 V(BR)DSS VDD VDD VD IDM ID AM05540v1 Inductive Load Turn -off Id Vgs Vds 90%Vds 10%Id 90%Vgs on td(v) tc(off) 10%Vds 90%Id Vgs(I(t)) on tf(i) tr(v) )) |
同様の部品番号 - STU80N4F6 |
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同様の説明 - STU80N4F6 |
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