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ULN2003AIPWG4 データシート(PDF) 10 Page - Texas Instruments |
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ULN2003AIPWG4 データシート(HTML) 10 Page - Texas Instruments |
10 / 34 page Open VCE IC II hFE = IC II Open VCE IC VI(on) Open VCE IC II(off) Open Open II(on) VI Open VCE Open ICEX Open VCE VI ICEX 10 ULN2002A, ULN2003A, ULN2003AI ULQ2003A, ULN2004A, ULQ2004A SLRS027O – DECEMBER 1976 – REVISED JANUARY 2016 www.ti.com Product Folder Links: ULN2002A ULN2003A ULN2003AI ULQ2003A ULN2004A ULQ2004A Submit Documentation Feedback Copyright © 1976–2016, Texas Instruments Incorporated 7 Parameter Measurement Information Figure 9. ICEX Test Circuit Figure 10. ICEX Test Circuit Figure 11. II(off) Test Circuit Figure 12. II Test Circuit II is fixed for measuring VCE(sat), variable for measuring hFE. Figure 13. hFE, VCE(sat) Test Circuit Figure 14. VI(on) Test Circuit |
同様の部品番号 - ULN2003AIPWG4 |
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同様の説明 - ULN2003AIPWG4 |
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