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IRF9540S データシート(PDF) 7 Page - Kersemi Electronic Co., Ltd. |
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IRF9540S データシート(HTML) 7 Page - Kersemi Electronic Co., Ltd. |
7 / 8 page Fig. 14 - For P-Channel P.W. Period dI/dt Diode recovery dV/dt Body diode forward drop Body diode forward current Driver gate drive Inductor current D = P.W. Period + - - + Peak Diode Recovery dV/dt Test Circuit • dV/dt controlled by R g • D.U.T. - device under test D.U.T. Circuit layout considerations • Low stray inductance • Ground plane • Low leakage inductance current transformer R g • Compliment N-Channel of D.U.T. for driver V DD • I SD controlled by duty factor “D” Note Note a. V GS = - 5 V for logic level and - 3 V drive devices V GS = - 10 V a D.U.T. l SD waveform D.U.T. V DS waveform V DD Re-applied voltage Ripple ≤ 5 % I SD Reverse recovery current IRF9540S, SiHF9540S 2014-8-28 7 www.kersemi.com |
同様の部品番号 - IRF9540S |
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同様の説明 - IRF9540S |
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