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CD4007M データシート(PDF) 3 Page - National Semiconductor (TI) |
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CD4007M データシート(HTML) 3 Page - National Semiconductor (TI) |
3 / 4 page AC Electrical Characteristics CD4007M TA e 25 C and CL e 15 pF and rise and fall times e 20 ns Typical temperature coefficient for all values of VDD e 03% C Symbol Parameter Conditions Min Typ Max Units tPLH e tPHL Propagation Delay Time VDD e 50V 35 60 ns VDD e 10V 20 40 ns tTLH e tTHL Transition Time VDD e 50V 50 75 ns VDD e 10V 30 40 ns CI Input Capacitance Any Input 50 pF AC Parameters may be generated by DC correlated testing AC Electrical Characteristics CD4007C TA e 25 C and CL e 15 pF and rise and fall times e 20 ns Typical temperature coefficient for all values of VDD e 03% C Symbol Parameter Conditions Min Typ Max Units tPLH e tPHL Propagation Delay Time VDD e 50V 35 75 ns VDD e 10V 20 50 ns tTLH e tTHL Transition Time VDD e 50V 50 100 ns VDD e 10V 30 50 ns CI Input Capacitance Any Input 5 pF AC Parameters are guaranteed by DC correlated testing AC Test Circuits TLF5943 – 2 TLF5943 – 3 TLF5943 – 4 Switching Time Waveforms TLF5943 – 5 3 |
同様の部品番号 - CD4007M |
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同様の説明 - CD4007M |
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